TY  - CONF

T1  - Determination of Impact Ionization Coefficients Measured from 4H Silicon Carbide Avalanche Photodiodes

UR  - https://doi.org/10.4028/0-87849-442-1.339

PY  - 2007/09/15

AU  - Loh WS

AU  - Johnson CM

AU  - Ng JS

AU  - Sandvik P

AU  - Arthur S

AU  - Soloviev S

AU  - David JPR

ED  - 

DO  - DOI: 10.4028/0-87849-442-1.339

PB  - Trans Tech Publications Ltd.

SP  - 339

EP  - 342

Y2  - 2025/11/19

ER  -