TY  - JOUR

T1  - EHIR: Energy-based Hierarchical Iterative Image Registration for Accurate PCB Defect Detection

JO  - Pattern Recognition Letters

UR  - https://doi.org/10.1016/j.patrec.2024.06.027

PY  - 2024/09/01

AU  - Deng S

AU  - Deng L

AU  - Meng X

AU  - Sun T

AU  - Chen B

AU  - Chen Z

AU  - Hu H

AU  - Xie Y

AU  - Yin H

AU  - Yu S

ED  - 

DO  - DOI: 10.1016/j.patrec.2024.06.027

PB  - Elsevier BV

VL  - 185

SP  - 38

EP  - 44

Y2  - 2025/11/23

ER  -