TY  - JOUR

T1  - Cross sectional STEM imaging and analysis of multilayered two dimensional crystal heterostructure devices

JO  - Microscopy and Microanalysis

UR  - https://doi.org/10.1017/s1431927615001336

PY  - 2015/09/23

AU  - Haigh SJ

AU  - Rooney AP

AU  - Prestat E

AU  - Withers F

AU  - Del Pozo Zamudio O

AU  - Mishchenko A

AU  - Gholinia A

AU  - Watanabe K

AU  - Taniguchi T

AU  - Tartakovskii AI

AU  - Geim AK et al

ED  - 

DO  - DOI: 10.1017/s1431927615001336

PB  - Oxford University Press (OUP)

VL  - 21

IS  - S3

SP  - 107

EP  - 108

Y2  - 2025/12/01

ER  -