TY  - JOUR

T1  - GATE DRAIN AVALANCHE BREAKDOWN IN GAAS POWER MESFETS

JO  - IEEE T ELECTRON DEV

PY  - 2005/08/09

AU  - DAVID JPR

AU  - SITCH JE

AU  - STERN MS

ED  - 

VL  - 29

IS  - 10

SP  - 1548

EP  - 1552

Y2  - 2025/11/19

ER  -