TY  - JOUR

T1  - Degradation of InGaN∕GaN laser diodes analyzed by microphotoluminescence and microelectroluminescence mappings

JO  - Applied Physics Letters

UR  - https://doi.org/10.1063/1.2908919

PY  - 2008/04/17

AU  - Rossetti M

AU  - Smeeton TM

AU  - Tan W-S

AU  - Kauer M

AU  - Hooper SE

AU  - Heffernan J

AU  - Xiu H

AU  - Humphreys CJ

ED  - 

DO  - DOI: 10.1063/1.2908919

PB  - AIP Publishing

VL  - 92

IS  - 15

Y2  - 2025/10/31

ER  -